在集成電路設計復雜度持續(xù)提升的背景下,傳統(tǒng)功能測試方法面臨覆蓋率不足、故障定位困難等挑戰(zhàn)??蓽y試性設計(DFT)通過在芯片中嵌入測試結(jié)構,顯著提升了故障檢測效率。本文聚焦掃描鏈插入與邊界掃描測試向量生成兩大核心技術,探討其實現(xiàn)方法與工程應用。
在模擬電路設計中,運算放大器(Op-Amp)的參數(shù)精度與噪聲特性直接影響系統(tǒng)性能。Spice仿真工具通過精確的器件建模與噪聲分析功能,為工程師提供了從參數(shù)提取到系統(tǒng)優(yōu)化的完整解決方案。本文結(jié)合實際案例,探討如何利用Spice實現(xiàn)運算放大器參數(shù)提取與噪聲分析的閉環(huán)優(yōu)化。
在芯片設計領域,傳統(tǒng)EDA工具鏈的高昂成本與復雜操作流程長期制約著中小型團隊的創(chuàng)新活力。OpenLANE作為全球首個開源的自動化ASIC實現(xiàn)流程,通過整合Yosys、OpenROAD、Magic等工具鏈,構建了從RTL到GDSII的全流程解決方案,為硬件開發(fā)者提供了低成本、高效率的設計驗證平臺。
在SoC(System on Chip)設計中,AXI(Advanced eXtensible Interface)總線因其高性能、高帶寬和低延遲特性,已成為IP核互聯(lián)的核心協(xié)議。然而,隨著設計復雜度提升,如何通過EDA工具鏈實現(xiàn)AXI互聯(lián)矩陣的高效配置與帶寬優(yōu)化,成為突破系統(tǒng)性能瓶頸的關鍵。
在電子設備日益復雜、應用環(huán)境日趨嚴苛的今天,傳統(tǒng)可靠性設計方法已難以滿足現(xiàn)代產(chǎn)品對長壽命、高穩(wěn)定性的需求。特別是汽車電子領域,產(chǎn)品需在振動、溫度循環(huán)、濕度等復合應力下保持15萬英里行駛里程和10年使用壽命,傳統(tǒng)“設計-構建-測試-整改”的試錯模式成本高昂且效率低下。在此背景下,基于失效物理(Physics of Failure, PoF)的可靠性設計方法應運而生,成為突破可靠性瓶頸的關鍵技術。該方法通過揭示材料、器件和系統(tǒng)的失效機理,建立物理模型預測產(chǎn)品壽命,實現(xiàn)了從“經(jīng)驗驅(qū)動”到“機理驅(qū)動”的范式轉(zhuǎn)變。
在半導體行業(yè)經(jīng)歷百年未有之大變局的今天,一顆名為RISC-V的“開源芯片”正以破竹之勢重構全球芯片生態(tài)。從加州大學伯克利分校的實驗室到阿里云數(shù)據(jù)中心,從特斯拉自動駕駛芯片到億級物聯(lián)網(wǎng)設備,這個誕生僅15年的指令集架構,正以“開源、免費、可定制”的基因,挑戰(zhàn)著x86和ARM長達數(shù)十年的雙頭壟斷。
在當今高度數(shù)字化的世界中,單片機作為嵌入式系統(tǒng)的核心,已滲透到我們生活的方方面面。從家用電器到工業(yè)自動化,從智能儀表到汽車電子,單片機以其小巧的體積、強大的功能和卓越的性價比,成為現(xiàn)代電子設備不可或缺的"大腦"。
Redis 作為高性能鍵值存儲系統(tǒng),其設計細節(jié)中蘊含著對效率與靈活性的深刻考量。默認配置的 16 個數(shù)據(jù)庫(編號 0-15)便是這一理念的典型體現(xiàn)。
在電子電路設計中,濾波電容作為電源和信號處理的核心元件,其作用在于抑制噪聲、穩(wěn)定電壓,確保系統(tǒng)可靠運行。然而,關于濾波電容的容量選擇,業(yè)界存在一個常見誤區(qū):認為電容越大,濾波效果必然越佳。
在電子工程領域,脈沖寬度調(diào)制(PWM)技術已成為控制模擬電路的核心手段。從電機調(diào)速到LED調(diào)光,從電源管理到通信系統(tǒng),PWM通過數(shù)字方式精確控制模擬信號,實現(xiàn)了高效與靈活的電子設計。