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[導(dǎo)讀]摘要:模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要針對(duì)模擬IC的直流參數(shù)和交流參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,其中直流參數(shù)的測(cè)試是整個(gè)測(cè)試過(guò)程的重要部分。直流參數(shù)測(cè)試單元可以為芯片提供穩(wěn)定的、精確的電壓或電流,主要實(shí)現(xiàn)兩種功能:一種是對(duì)待測(cè)芯

摘要模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要針對(duì)模擬IC的直流參數(shù)和交流參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,其中直流參數(shù)的測(cè)試是整個(gè)測(cè)試過(guò)程的重要部分。直流參數(shù)測(cè)試單元可以為芯片提供穩(wěn)定的、精確的電壓或電流,主要實(shí)現(xiàn)兩種功能:一種是對(duì)待測(cè)芯片施加電壓從而測(cè)量電流值,簡(jiǎn)稱FVMI(加電壓測(cè)電流)功能;另一種是對(duì)待測(cè)芯片施加電流從而測(cè)量電壓值,簡(jiǎn)稱FIMV(加電流測(cè)電壓)功能。

集成電路(Integrated Circuit,IC)測(cè)試技術(shù)是集成電路產(chǎn)業(yè)中不可或缺的重要組成部分,而測(cè)試設(shè)備是IC測(cè)試技術(shù)的一種重要工具。模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一款針對(duì)模擬IC直流參數(shù)和交流參數(shù)進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備,主要用于IC晶圓的測(cè)試,以便驗(yàn)證芯片的性能參數(shù)是否符合規(guī)范要求。

1 模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要包括PC、PCI通信板、控制板、母板、TMU板、OVC板、AWG板、DIG板和DUT板組成,系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。

1. 1 PC模塊

PC是整個(gè)模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的主控制中心,類似于人類的“大腦”,主要負(fù)責(zé)向各個(gè)功能板發(fā)送功能指令使其實(shí)現(xiàn)相應(yīng)的功能,并接收、處理測(cè)量得到的數(shù)據(jù)結(jié)果。

1.2 PCI通信板模塊

PCI通信板主要負(fù)責(zé)對(duì)PC發(fā)送的功能指令進(jìn)行譯碼,然后轉(zhuǎn)換成測(cè)試數(shù)據(jù)總線傳遞給模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),類似于PC與自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)之間的“橋梁”。

1.3 控制板模塊

控制板主要是將PCI傳遞的測(cè)試數(shù)據(jù)總線進(jìn)行相應(yīng)的數(shù)據(jù)處理,完成PCI和各功能板之間的通信。

1. 4 母板模塊

母板類似于控制板和各功能板之間的“橋梁”,主要實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)總線的傳遞。

1.5 功能板模塊

TMU(Time Measure Unit),時(shí)間測(cè)量單元,主要功能是測(cè)量信號(hào)的頻率、周期、上升沿時(shí)間、高脈沖時(shí)間等時(shí)間參數(shù);AWG(Arbitrary Waveform Generator),任意波形發(fā)生器,主要功能是可以產(chǎn)生任意的波形;DIG是數(shù)據(jù)采集卡,主要對(duì)波形的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集、處理、存儲(chǔ)和傳輸;OVC(Octal Voltage/Current),直流參數(shù)測(cè)試單元,主要功能對(duì)直流參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。

2 直流參數(shù)測(cè)試單元

模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中直流參數(shù)測(cè)試單元的主要功能是為芯片提供穩(wěn)定的電壓值或者電流值,然后測(cè)量其電流或者電壓,從而判斷芯片是否符合規(guī)范要求。本設(shè)計(jì)中的直流參數(shù)設(shè)計(jì)單元(OVC)可提供4個(gè)獨(dú)立的PMU(Precision Measure Unit,精密測(cè)量單元),最大輸出電壓可達(dá)到+20 V,誤差為0.5%,最大輸出電流可達(dá)到±0.5 A,誤差為0.1%,OVC的硬件結(jié)構(gòu)如圖2所示。

2.1 直流參數(shù)測(cè)試單元原理

OVC系統(tǒng)采用16位DAC7744、16位ADC974以及開(kāi)爾文連接法來(lái)提高系統(tǒng)的精度。PMU可以實(shí)現(xiàn)兩種功能:FVMI(加電壓測(cè)電流)功能和FIMV(加電流測(cè)電壓)功能。兩種功能的原理框圖如圖3所示。

從PC端發(fā)送功能指令FV/FI,F(xiàn)PGA對(duì)功能指令進(jìn)行解碼,從而控制DAC、繼電器開(kāi)關(guān)和ADC,最終將測(cè)量結(jié)果MI/MV上傳到PC端。本設(shè)計(jì)中DAC采用16位的DAC7744,ADC采用16位的ADC974,它們都擁有4個(gè)獨(dú)立的通道,可提供4個(gè)獨(dú)立的PMU通道,分辨率為305 μV,能夠滿足系統(tǒng)高精度的要求。

2.2 加電壓測(cè)電流(FVMI)功能原理

加電壓測(cè)電流功能主要是為待測(cè)器件施加一個(gè)穩(wěn)定的電壓值,然后測(cè)量流經(jīng)待測(cè)器件的電流。將圖3中的開(kāi)關(guān)S2、S3打到FV端,整個(gè)電路就可以實(shí)現(xiàn)加電壓測(cè)電流(FVMI)的功能。

首先,為了提高系統(tǒng)的精度,圖3中的Force端和Sense端采用開(kāi)爾文連接法,最終連接到待測(cè)器件的同一端。

其次,F(xiàn)PGA接收到PC的功能指令,當(dāng)前系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)加壓測(cè)流的功能,F(xiàn)PGA控制DAC輸出所施加的電壓值,由于DAC7744輸出電壓范圍在-10~+10 V之間,如果所施加的電壓值在-10~+10 V之間,那么開(kāi)關(guān)S1直接打到FV/FI端,如果所施加的電壓值在+10~+20 V或者-20~-10 V之間,那么開(kāi)關(guān)S1需要打到-2F V端,將DAC的輸出電壓經(jīng)過(guò)OPA1反相放大2倍后輸出所要施加的電壓值。

然后,DAC輸出的電壓值到達(dá)功率放大器OPA2,此時(shí)選擇合適采樣電阻Rs,并將與其相連的繼電器閉合。那么,OPA2、采樣電阻、待測(cè)器件就形成了一個(gè)回路,如圖4所示。

由圖4可知,流經(jīng)待測(cè)器件load的電流與流經(jīng)采樣電阻Rs的電流相等,而儀表放大器OPA3的輸出電壓VD是采樣電阻Rs兩端的壓差,那么VD除以采樣電阻阻值Rs得到的電流值I即為流經(jīng)采樣電阻Rs的電流值,也就是流經(jīng)待測(cè)器件load的電流值。VD經(jīng)過(guò)ADC轉(zhuǎn)換成16位數(shù)字信號(hào),上傳到PC,PC端將數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,最終得到電流值MI。

2.3 加電流測(cè)電壓(FIMV)功能原理

加電流測(cè)電壓功能主要是為待測(cè)器件施加一個(gè)穩(wěn)定的電流值,然后測(cè)量待測(cè)器件的電壓值。將圖3中的開(kāi)關(guān)S2、S3打到FI端,整個(gè)電路就可以實(shí)現(xiàn)加電流測(cè)電壓(FIMV)的功能。

首先,為了提高系統(tǒng)的精度,圖3中的Force端和Sense端采用開(kāi)爾文連接法,最終連接到待測(cè)器件的同一端。

其次,F(xiàn)PGA接收到PC的功能指令,當(dāng)前系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)加流測(cè)壓的功能,此時(shí)需要選擇合適的采樣電阻值Rs,由FPGA控制DAC輸出一定的電壓值,電壓值等于所施加的電流值FI乘以采樣電阻阻值Rs。

然后,DAC輸出的電壓值到達(dá)功率放大器OPA2,此時(shí)與采樣電阻Rs相連的繼電器閉合。那么,OPA2、采樣電阻、OPA3和待測(cè)器件就形成了一個(gè)回路,如圖5所示。

由圖5可知,流經(jīng)采樣電阻Rs的電流與流經(jīng)待測(cè)器件load的電流相等,即PC所施加的電流值,那么此時(shí)待測(cè)器件load的電壓值就是Sense端的電壓值VT,VT經(jīng)過(guò)電壓跟隨器OPA4、緩沖器OPA5,最終由ADC轉(zhuǎn)換成16位數(shù)字信號(hào),上傳到PC,PC端將數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,最終得到電壓值MV。

2.4 測(cè)量結(jié)果

本設(shè)計(jì)直流參數(shù)測(cè)試單元(OVC)包括4個(gè)獨(dú)立的PMU,以其中一個(gè)PMU為例,選用精密電阻作為待測(cè)器件,表1是FVMI功能和FIMV功能的測(cè)試數(shù)據(jù)。

3 結(jié)論

根據(jù)文中的測(cè)試數(shù)據(jù)可以分析得到:直流參數(shù)測(cè)試單元可以作為穩(wěn)定的、精確的電壓源或電流源。目前,OVC已進(jìn)入硬件電路的老化性測(cè)試階段,在不久的將來(lái),將投入模擬IC的測(cè)試應(yīng)用。

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