1、測試基本原則

以標(biāo)準(zhǔn)(IEC標(biāo)準(zhǔn)和其他國際標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)、部頒標(biāo)準(zhǔn))、開發(fā)規(guī)格書、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、測試規(guī)范為依據(jù)，以測試數(shù)據(jù)為準(zhǔn)繩，站在用戶的角度上對電源系統(tǒng)進(jìn)行評測，將功能缺陷與故障隱患暴露在測試階段。

模塊指標(biāo)盤踞以開發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)，當(dāng)測試項(xiàng)目在開發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中未明確界定時，以測試規(guī)范中系統(tǒng)指標(biāo)的默認(rèn)參考指標(biāo)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

測試工作不受項(xiàng)目開發(fā)組態(tài)度與思路及其他干擾測試過程因素的影響，獨(dú)立按照測試流程進(jìn)行。

對于樣機(jī)階段的模塊測試(模塊的優(yōu)化測試?yán)?，首先進(jìn)行環(huán)路的測試，環(huán)路測試不合格，測試結(jié)束，模塊退回項(xiàng)目組修改以后，重新提交測試申請，轉(zhuǎn)入下一循環(huán)的測試。

樣機(jī)測試中，如果因測試問題較嚴(yán)重，已影響模塊測試工作的順利進(jìn)行，需停止測試，方允許在受測試系統(tǒng)上進(jìn)行修改，項(xiàng)目開發(fā)組對問題進(jìn)行修改并完成自測試后，重新提交測試申請，轉(zhuǎn)入下一循環(huán)的測試。其余情況下，測試問題只能在第二套樣機(jī)上進(jìn)行修改及測試，并進(jìn)行記錄。在下一測試階段，對修改后的測試問題進(jìn)行系統(tǒng)驗(yàn)證并進(jìn)行其他項(xiàng)目測試。

中試測試著重設(shè)計(jì)產(chǎn)品的復(fù)制結(jié)果——復(fù)制品性能、指標(biāo)的達(dá)標(biāo)情況。

2、技術(shù)指標(biāo)說明

開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)低于業(yè)界相關(guān)的規(guī)定時，需修改開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，否則依據(jù)業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)判定開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)不合格，并提請總體辦重新對開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評審。

(1)指標(biāo)界定

部標(biāo)為最低標(biāo)準(zhǔn)，當(dāng)開發(fā)規(guī)格書優(yōu)于部標(biāo)、國標(biāo)或國際標(biāo)準(zhǔn)時，以開發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)：未作特殊說明的指標(biāo)為開發(fā)規(guī)格書、項(xiàng)目任務(wù)書及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中界定的指標(biāo)要求，是產(chǎn)品必須具備的基本指標(biāo)。

(2)牽引指標(biāo)

遵照“以測試技術(shù)牽引開發(fā)技術(shù)”的原則，向國際標(biāo)準(zhǔn)靠攏，用以牽引公司產(chǎn)品技術(shù)的發(fā)展類指標(biāo)。

3、不合格測試項(xiàng)目分類原則

3.1 A類問題(致命問題)：

威脅用戶人身或財(cái)產(chǎn)安全的所以項(xiàng)目;

引起產(chǎn)品不能正常工作或性能嚴(yán)重劣化的所以項(xiàng)目。

3.2 B類問題(嚴(yán)重問題)：

技術(shù)指標(biāo)未能達(dá)到產(chǎn)品開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的項(xiàng)目;

各種非破壞性極限情形下(如極限瞬態(tài)等)可能導(dǎo)致產(chǎn)品損壞的項(xiàng)目;

環(huán)路測試裕量不足。

3.3 C類問題(一般問題)：

不影響產(chǎn)品功能與性能之項(xiàng)目，如：產(chǎn)品外觀及標(biāo)志未合格項(xiàng)目、測試規(guī)范沒有界定的測量點(diǎn)的局部溫升等項(xiàng)目;

技術(shù)指標(biāo)未達(dá)到牽引指標(biāo)之項(xiàng)目;

裕量測試不足之測試項(xiàng)目(環(huán)路裕量測試不足屬嚴(yán)重問題)。

3.4 D類問題(討論問題)：

研究性測試未合格項(xiàng)目;

開發(fā)規(guī)格書(或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn))及測試規(guī)范中均未明確界定的項(xiàng)目;

對于測試項(xiàng)目不合格結(jié)束，送測方與測試方存在分歧且無判定參考依據(jù)的測試項(xiàng)目;

測試中發(fā)現(xiàn)的問題對于用戶影響不能確認(rèn)的。

4、產(chǎn)品判斷準(zhǔn)則

4.1 合格判定

無A、B不合格項(xiàng)，C類不合格向不大于3項(xiàng)，判定模塊合格。

4.2 不合格判定

A、B類問題，一項(xiàng)不合格，即判定模塊不合格;

C類問題，三項(xiàng)(不含三項(xiàng))以上不合格，即判定模塊不合格。

4.3 D類問題判定

由總體組和專家組，參照技術(shù)、市場、生產(chǎn)、成本等等限制條件確定其對系統(tǒng)合格與否的影響。

對D類問題的判定結(jié)果，由總體組和專家組負(fù)責(zé)，不記如測試部的評定指標(biāo)范圍。