集成電容的基本測試方案為:將集成電容與Q表(內(nèi)有電感)連接。調(diào)整Q表上的“電容”旋鈕 ,利用二階電路諧振的特點,直至Q表顯示的Q至最大時記錄下所調(diào)出的電容值,將此電容值 與被測的標稱值相比較,得出測試結(jié)果(驗證結(jié)果)。它的原理電路如圖1。輸出電壓取自電 阻,則電壓轉(zhuǎn)移函數(shù)為:
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中心頻率對通帶的比值為品質(zhì)因素,記為Q,即
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本設(shè)計的理論思想為:輸入的正弦波幅值固定而改變頻率,當輸入頻率為ω0時,電阻R兩 端的電壓最大。用輸出波形電壓最大值時的頻率與理論上ω0相比較,即可做出測試。
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本設(shè)計中共使用了三個儀器,分別是HP公司的HP54602B示波器,HP公司的HP33120A函數(shù)發(fā)生 器/任意波形信號發(fā)生器,以及Fluke公司的8840A萬用表。這些儀表都具有通用接口總線(GP IB)。每臺儀表在自動測試系統(tǒng)中都設(shè)有唯一的GPIB地址。使用的計算機裝有GPIB接口卡。 將它和各種儀表通過總線連接起來,組成自動測試系統(tǒng)。PC機通過接口對測試儀器進行編程 和控制;通過多個GPIB接口卡,實現(xiàn)微機間的近距離高速并行數(shù)據(jù)通信。
2.1IEEE-488(GP-IB)接口
現(xiàn)代智能儀器大都具有本地(local)和遠地(remote)兩種工作方式。在本地工作方式,用戶 通過鍵盤向儀器發(fā)布各種命令,指示儀器完成各種動作。在遠地工作方式,控者(通常為計 算機)通過GP-IB接口總線向儀器發(fā)布各種命令。接口是智能儀器與外界通信的關(guān)鍵部件。G PIB接口總線共有16條信號線:8條DIO數(shù)據(jù)線,用來傳遞各種多線消息;3條掛鉤線,用以保 證信息的可靠傳輸;5條接口管理線,用以管理接口的工作方式。
2.2Agilent VEE軟件
Agilent公司的VEE軟件(Visual Engineering Environment)是一種面向儀器控制的圖形化編 程語言,支持MS Windows和HP UNIX工作站及Sun SPARC工作站等多種工作平臺,也是目前面 向VXI總線測試系統(tǒng)的主要軟件開發(fā)環(huán)境之一。它是一種模塊化的流程圖編程語言,它由數(shù) 據(jù)線和控制線將各個模塊連接在一起組成整個程序。
下面是VEE的測試程序(見圖3),所有的結(jié)果都由VEE模擬生成。 該程序由VEE生成一掃頻過程(見圖4),再由萬用表在每一頻率隨機生成一電壓值(見圖6), 比較后輸出最大值。這一系列過程都由主程序設(shè)定,輸出的操作員界面如圖5所示。
由于測試系統(tǒng)采用的各類儀表都符合基于IEEE?488(GPIB)總線的儀器標準,給系統(tǒng)集成提 供了極大方便。并且得益于Agilent VEE虛擬儀器軟件技術(shù),使得在元件參數(shù)的計算機 輔助測量中,系統(tǒng)體現(xiàn)了較大的編程方便性、通用性和靈活性。在這個功能強大而方便的虛 擬儀器開發(fā)平臺上,表現(xiàn)出比傳統(tǒng)的測試儀器更智能化、更可靠,操作性也更強。
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摘要:隨著經(jīng)濟和科學技術(shù)的發(fā)展,微波技術(shù)在各個測試系統(tǒng)中的應(yīng)用越來越廣泛。自動測試系統(tǒng)是在計算機技術(shù)的支持下完成自動測試的系統(tǒng)。自動測試系統(tǒng)可以自動完成測試、數(shù)據(jù)處理、數(shù)據(jù)輸出等工作。而自動測試系統(tǒng)的設(shè)計也開始應(yīng)用微波元...
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微波元器件
自動測試系統(tǒng)
精度校準
數(shù)據(jù)分析
2A,60W系列中獨特的采用省時省空間設(shè)計概念的產(chǎn)品 Pickering Interfaces公司作為生產(chǎn)用于電子測試及驗證的信號開關(guān)與仿真解決
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PXI多路復(fù)用模塊
自動測試系統(tǒng)
1 引言
自動測試系統(tǒng)ATS(AutomaTIc Test System)集成測試所需的全部激勵與測量設(shè)備,計算機高效完成各種模式的激勵及響應(yīng)信號的采集、存儲與分析,對被測單元進行自
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USB
自動測試系統(tǒng)
cy7c68013a
自動測試系統(tǒng)包括的內(nèi)場檢測設(shè)備和外場綜合檢測設(shè)備均有完善的自檢功能,完全覆蓋了其檢測參數(shù),自檢測試精度也與檢測精度相當,基于自檢過程的計量校準思路完全是可行的?;谧詸z過程的校準系統(tǒng)設(shè)計基本原理如圖1所
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探傷儀
自動測試系統(tǒng)
電路設(shè)計以及PCB制作中,經(jīng)常碰見電源符號:VCC、VDD、VEE、VSS,他們具有什么樣的關(guān)系那?
一、解釋
VCC:C=circuit表示電路的意思,即接入電路的電壓
VDD:D=de
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vcc
vdd
vee
vss
電源技術(shù)解析
自動測試系統(tǒng)(Automatic Test System, ATS)對于測試領(lǐng)域的工程人員來說并不陌生,也被認為是測試系統(tǒng)發(fā)展的一種趨勢。至于具體的概念可以到相關(guān)的網(wǎng)站或書籍上查找,此處并不會過多地涉及這些學術(shù)化的定義。...
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LabVIEW
自動測試系統(tǒng)
功能完整的數(shù)字電子示波器
電子示波器是實驗室、工廠和現(xiàn)場的工程人員廣泛使用的儀器,事實上電子示波器也是通過電子測試測量儀器類中,銷量最大和銷售金額最高的產(chǎn)品。在30年代末至40年代初,受電視廣播和雷
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波形
自動測試系統(tǒng)
數(shù)字化示波器
先看一下stm32vet6的引腳圖吧電路設(shè)計以及PCB制作中,經(jīng)常碰見電源符號:VCC、 VDD、VEE、VSS,他們具有什么樣的關(guān)系那? 一、解釋 VCC:C=circuit 表示電路的意思, 即接入電路的電壓 ...
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STM32
vcc
vdd
vee
vss
微電子、計算機、傳感器和信息處理技術(shù)等現(xiàn)代科技的發(fā)展,對自動檢測技術(shù)的發(fā)展提供了有利的條件,奠定了新一代ATS的基礎(chǔ),成為推動其體系結(jié)構(gòu)、測試方法、測試技術(shù)不斷進步的強大動力。自動測試設(shè)備(ATE)和自動測試
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自動測試系統(tǒng)
測試總線
LabVIEW簡介:LabVIEW是一種程序開發(fā)環(huán)境,由美國國家儀器(NI)公司研制開發(fā)的,類似于C和BASIC開發(fā)環(huán)境,但是LabVIEW與其他計算機語言的顯著區(qū)別是:其他計算機語言都是采用...
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自動測試系統(tǒng)
pwm電路
1 引言
隨著我軍戰(zhàn)略指導方針向信息化方向轉(zhuǎn)變,高新技術(shù)在武器裝備全壽命周期內(nèi)得到廣泛應(yīng)用,導致武器裝備的復(fù)雜程度與日劇增。傳統(tǒng)基于單總線的測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)變得難以滿足武器裝備的維護保障
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lxi
多總線融合
自動測試系統(tǒng)
以NI LabVIEW為軟件核心,集成了多種數(shù)據(jù)采集卡,通信板卡,各類通用儀器,醫(yī)療專用儀器,安規(guī)儀器,切換夾具等硬件,共同構(gòu)成多參數(shù)病人監(jiān)護儀的全功能及安全測試平臺。
使用的產(chǎn)品:
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病人監(jiān)護儀
自動測試系統(tǒng)
labview為平臺
在微波測試系統(tǒng)中,射頻和微波開關(guān)大量用于儀器和被測器件(DUT) 間的信號路由。把開關(guān)置入開關(guān)矩陣系統(tǒng),就可把來自多臺儀器的信號路由至一個或多個DUT。
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射頻
開關(guān)
自動測試系統(tǒng)
為了提高航天航空電源系統(tǒng)的性能和可靠性,對電源系統(tǒng)進行全面的測試和評估具有十分重要的意義。航天航空領(lǐng)域上的電源系統(tǒng)是產(chǎn)生、貯存、變換、調(diào)節(jié)和分配電能的系統(tǒng),通常可分為主電源和二次電源。二次電源是將主電
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電源
自動測試系統(tǒng)
電源測試
電源系統(tǒng)
通用射頻自動測試系統(tǒng)(Automatic Testing Systems)旨在為用戶解決測試中繁雜的測試接線(針對多通道測試系統(tǒng)),繁瑣的儀器操作,大量的數(shù)據(jù)記錄、分析、處理等問題,從而縮短測試時間,減 少隨機誤差、提高...
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自動測試系統(tǒng)
通用射頻
隨著科學技術(shù)的發(fā)展,人們在生產(chǎn)及日常生活中使用的電氣與電子設(shè)備也日益增多,而這些設(shè)備與其他物體及設(shè)備一樣,工作在一定環(huán)境之中。運行中的電氣、電子設(shè)備大多伴隨著電
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vb
vc++
嵌入式開發(fā)
界面
自動測試系統(tǒng)
emi標準