存儲測試系統的上電方式是一個非常重要的環(huán)節(jié)。許多測試都是在保溫一定時間后進行的，而測試裝置都是在保溫前放到被測物體中，這就要求在保溫過程中使測試裝置的功耗降到最低，倒置開關的作用就是在物體保溫的過程中測試系統不工作，而在測試前通過倒置開關使測試系統上電工作，從而達到低功耗，使測試系統在工作時能正常運行。

倒置開關是存儲測試系統的關鍵部件，它的可靠性決定了存儲測試系統的可靠性，直接關系整個實驗的成敗。
本文研究了一種光電倒置開關，并設計一套完整的可靠性檢測系統，有效分析了光電倒置開關的可靠性。

1 光電倒置開關

1.1 光電倒置開關的組成

光電倒置開關是由一個發(fā)射管和一個接收管安裝固定在同一個對光基線的殼體上，在殼體的內腔中裝有小鋼球，外部由電路模塊做出響應，這3 部分被封裝在同一個小體積的機械筒體內。光電倒置開關結構如圖1 所示。

圖1 光電倒置開關結構圖

紅外發(fā)光二極管具有能耗小，響應速度快，抗干擾能力、可靠耐用等優(yōu)點。紅外發(fā)光二極管作為發(fā)射器把電信號轉換為紅外光信號，光敏三極管作為接收器，接收紅外光信號再將紅外光信號轉換為電信號。在本微型開光設計過程中選用與紅外發(fā)光二極管配套的光敏三極管。

1.2 光電倒置開關的工作過程

當光電倒置開關接通電源后，發(fā)射二極管開始發(fā)出紅外線，當小鋼球沒有擋住發(fā)射管的光線，接收三極管接受到光，輸出有效信號。此信號通過電路轉換部分將電平拉高，從而使開關導通；隨著倒置過程的開始，小鋼球跌落，擋住發(fā)射二極管的光線，接收三極管接收不到光，從而開關斷開。

1.3 光電倒置開關的波形理論

機械殼體對于光電倒置開關來說是最為重要的部分，殼體的內腔具有兩個錐度腔，根據機械殼體的結構，光電倒置開關倒置一周（旋轉360°）的工作狀態(tài)的轉換情況如圖2 所示。

圖2 中心線旋轉一周開關狀態(tài)的角度圖

根據上述，可以得出在光電倒置開關工作一個周期的波形圖。波形示意圖如圖3 所示。從光電倒置開關工作的理論波形圖可以看出，一個開關工作一個周期（旋轉倒置360°）的理想占空比是251.5/360，這就是光電倒置開關檢測系統的測試信號的特性，也為驗證檢測系統的準確性提供了依據。

圖3 光電倒置開關工作一個周期的波形圖

2 光電倒置開關檢測系統設計

2.1 檢測系統的總體結構

光電倒置開關的檢測系統是由小功率調速電機、固定光電倒置開關和電路模塊的轉筒以及電路模塊所組成的。圖4 是檢測系統的總體結構框圖，該圖表明了各部分之間的關系。

圖4 檢測系統的總體結構框圖

當系統裝配好后，接上電源進入低功耗態(tài)；在小功率電機的旋轉過程中，當檢測系統的光敏三極管感應到發(fā)光二極管發(fā)出的光時，檢測系統被觸發(fā)，系統開始循環(huán)采樣并把轉換的結果存儲到外部Flash中；當Flash 內的數據達到設計的存儲容量時，系統停止采樣檢測系統進入等待讀出態(tài)。