吉時利儀器(Keithley Instruments)稍早前推出「吉時利測試環(huán)境」(KTE)半導體測試軟體的升級版。新的 KTE V5.3 是專為配合吉時利的程式控制監(jiān)控方案產(chǎn)品線 S530 參數(shù)測試系統(tǒng)使用所設(shè)計。
KTE是一款測試開發(fā)和執(zhí)行軟體平臺，而吉時利的 S530 測試系統(tǒng)，可運用這個經(jīng)業(yè)界長期驗證的軟體平臺，在嚴苛的生產(chǎn)環(huán)境中實現(xiàn)靈活的測試計劃開發(fā)和高速測試?，F(xiàn)有的吉時利S400和S600系列參數(shù)測試儀用戶將能受益于S530系統(tǒng)上的KTE V5.3，因為他們可以將現(xiàn)有的測量程式輕松轉(zhuǎn)移到S530，而且現(xiàn)有測試儀和新的S530系統(tǒng)可以共用同一個測試計劃。

結(jié)合了30年的參數(shù)測試代碼開發(fā)實務經(jīng)驗和市場上最快、最先進的系統(tǒng)硬體優(yōu)勢，吉時利進一步將KTE測試開發(fā)和執(zhí)行環(huán)境擴展至S530系統(tǒng)。S530儀器提供程式控制監(jiān)控等參數(shù)測試應用要求的高速和廣泛測量范圍。

對于已經(jīng)使用KTE較早版本的客戶來說，KTE V5.3加速并簡化了S530測試系統(tǒng)到測試平臺的整合。

同一種測試方法和測試方案適用于所有吉時利自動參數(shù)測試系統(tǒng)，這不僅縮短了使用多個系統(tǒng)的測試工程師和操作人員的學習過程，而且在測試平臺上增加新的高速系統(tǒng)，或取代較早期平臺時提供平穩(wěn)的轉(zhuǎn)換路徑，進而保護晶圓廠的測試開發(fā)投入。

使用者只需重新編譯和重新建立多年來為更早吉時利系統(tǒng)開發(fā)的用戶資料庫，只需進行少量的除錯下，就能繼續(xù)在S530上使用這些資料庫。

KTE V5.3簡化了建立條件測試順序的新用戶擷取點(user access point；UAP)原始碼以及制訂S530的系統(tǒng)工作流程。為早期吉時利系統(tǒng)開發(fā)的UAP原始碼在少量的調(diào)整下，適用于S530系統(tǒng)。

KTE的工具對吉時利所有參數(shù)測試平臺都提供完全相同的功能。S530的KTE適和在標準工業(yè)PC的Linux作業(yè)系統(tǒng)上運作，可保持長期的穩(wěn)定性也易于維護。這項軟體已針對高速生產(chǎn)測試環(huán)境最佳化了速度，也提升了可靠性。運作KTE V5.3的S530系統(tǒng)能實現(xiàn)程式控制監(jiān)控、過程可靠監(jiān)控和元件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測量。S530系統(tǒng)特別針對某些生產(chǎn)參數(shù)測試環(huán)境進行優(yōu)化，包括必須配合廣泛產(chǎn)品組合的環(huán)境，必須維持廣泛應用靈活性的環(huán)境，或快速測試方案開發(fā)。