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[導(dǎo)讀]據(jù)Semiconductor Reporter網(wǎng)站報(bào)道,以色列公司Test Insight近期宣布,該公司已經(jīng)開(kāi)發(fā)出一系列基于標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(STIL)的工具,以更好的實(shí)現(xiàn)EDA工具與自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的連接。Test Insight所提供的STIL-link工具組件

據(jù)Semiconductor Reporter網(wǎng)站報(bào)道,以色列公司Test Insight近期宣布,該公司已經(jīng)開(kāi)發(fā)出一系列基于標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(STIL)的工具,以更好的實(shí)現(xiàn)EDA工具與自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的連接。Test Insight所提供的STIL-link工具組件可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試端和設(shè)計(jì)端的STIL測(cè)試模版的使用。工程人員傾向于采用STIL進(jìn)行可測(cè)試性設(shè)計(jì)流程,測(cè)試工具與解決方案將會(huì)提供給STIL用戶。Test Insight同時(shí)也提供其他方面的應(yīng)用,例如通過(guò)軟件工具將程序由一個(gè)ATE平臺(tái)轉(zhuǎn)向另一個(gè)。這為工藝制程帶來(lái)了很大的靈活性,同時(shí)也可以有效的減少成本支出。
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