在開(kāi)關(guān)電源設(shè)計(jì)中,電磁干擾(EMI)問(wèn)題已成為影響產(chǎn)品可靠性和合規(guī)性的關(guān)鍵因素。隨著電子設(shè)備向高頻化、緊湊化發(fā)展,EMI問(wèn)題愈發(fā)突出。
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