高反光金屬表面缺陷檢測挑戰(zhàn)：偏振成像與多光譜融合的圖像預(yù)處理技術(shù)對(duì)比研究

在工業(yè)質(zhì)檢領(lǐng)域，高反光金屬表面缺陷檢測是公認(rèn)的難題。金屬材料的高反射特性導(dǎo)致傳統(tǒng)成像技術(shù)難以捕捉表面微小缺陷，而環(huán)境光干擾、表面粗糙度不均等因素進(jìn)一步加劇了檢測難度。為突破這一瓶頸，偏振成像與多光譜融合技術(shù)作為兩種前沿圖像預(yù)處理方法，逐漸成為學(xué)術(shù)界與產(chǎn)業(yè)界的研究熱點(diǎn)。本文將從原理分析、應(yīng)用場景及實(shí)現(xiàn)路徑三個(gè)維度，系統(tǒng)對(duì)比兩種技術(shù)的核心機(jī)制與適用性，為高反光金屬表面缺陷檢測提供技術(shù)選型參考。