有源光電器件的特性描述絕不僅僅只需要 一個電流源 有源的光電器件是一個基本的半導體 結(jié),為了更全面的測試,不僅要求對其做 正向的I-V特性測試,也要求監(jiān)測反向的 I-V特性。傳統(tǒng)的激光二極管
微弱電流的測試需要驅(qū)動保護(Driven Guard) Keithley的測量設備中獨一無二的是,保護回路的引入將測試線與圍繞測 試線的導體之間的電勢差降到最小(圖 8)。當源測試線與保護線之間的電勢差很小時,潛在的
是德科技創(chuàng)新技術(shù)峰會來襲,報名領好禮
Makefile工程實踐第01季:從零開始一步一步寫項目的Makefile
Altium Designer 16入門技巧視頻大全
C 語言靈魂 指針 黃金十一講 之(1)
手把手教你學STM32-Cortex-M4(入門篇)
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯誤 其它
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務 | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號:京ICP證070360號 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報窗口( 郵箱:macysun@21ic.com )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號