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內(nèi)存錯誤

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  • 使用Valgrind檢測嵌入式C程序中的內(nèi)存錯誤

    在資源受限的嵌入式系統(tǒng)中,內(nèi)存錯誤(如泄漏、越界訪問)常導致系統(tǒng)崩潰或數(shù)據(jù)損壞,且傳統(tǒng)調(diào)試手段難以定位。Valgrind作為開源動態(tài)分析工具,雖主要針對x86/ARM桌面環(huán)境設計,但通過交叉編譯與配置優(yōu)化,可有效檢測嵌入式C程序的內(nèi)存問題。本文結(jié)合STM32CubeIDE開發(fā)環(huán)境,解析Valgrind在嵌入式場景的應用方法與實戰(zhàn)技巧。