由隨機(jī)小電壓構(gòu)成的噪聲可能很難測(cè)量,實(shí)驗(yàn)室儀器本身的噪聲使測(cè)量問題進(jìn)一步復(fù)雜化。測(cè)量噪聲時(shí),常常要使用專門的技 術(shù)。例如,放大器通常配置為高閉環(huán)增益,以使放大輸入噪聲便于測(cè)量。但是,低固定
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