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可測試性設(shè)計（DFT）實現(xiàn)：掃描鏈插入與邊界掃描測試向量生成
在集成電路設(shè)計復(fù)雜度持續(xù)提升的背景下，傳統(tǒng)功能測試方法面臨覆蓋率不足、故障定位困難等挑戰(zhàn)?？蓽y試性設(shè)計（DFT）通過在芯片中嵌入測試結(jié)構(gòu)，顯著提升了故障檢測效率。本文聚焦掃描鏈插入與邊界掃描測試向量生成兩大核心技術(shù)，探討其實現(xiàn)方法與工程應(yīng)用。
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硬件可測試性設(shè)計規(guī)范：保障質(zhì)量與效率的關(guān)鍵
在快速發(fā)展的科技領(lǐng)域，硬件產(chǎn)品的復(fù)雜性和集成度日益提高，這對硬件的可測試性提出了更高要求。硬件可測試性設(shè)計（DFT, Design for Testability）作為一種重要的設(shè)計方法，旨在通過優(yōu)化硬件設(shè)計，提高測試效率、降低測試成本，并確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。本文將深入探討硬件可測試性設(shè)計規(guī)范，包括其重要性、設(shè)計原則、實施策略以及未來發(fā)展趨勢。
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