球柵陣列(BGA)封裝憑借其高密度引腳和優(yōu)異電性能,已成為5G通信、汽車電子等領(lǐng)域的核心封裝形式。然而,BGA焊接過程中常見的開路失效問題,如焊點虛焊、IMC層斷裂等,仍是制約產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵瓶頸。本文結(jié)合IPC-7095標(biāo)準(zhǔn)與金相切片分析技術(shù),系統(tǒng)解析BGA開路失效的機理與優(yōu)化策略。
《21ic技術(shù)洞察》系列欄目第二期:工業(yè)自動化中的AI視覺系統(tǒng)
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