針對某核電項 目 1號發(fā)電機定子繞組直流耐壓試驗的放電故障展開研究 , 通過記錄試驗 、描述現(xiàn)象多維度分析原因 ,針對手包絕緣工藝缺陷等核心問題提出返修方案與改進措施。經(jīng)驗證 ,返修后手包絕緣性能達標 , 為同類發(fā)電機相關(guān)試驗及管理提供了實踐經(jīng)驗。
突破性能天花板,成本超乎你想象,和ST一起揭開STM32C5的神秘面紗
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