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板級(jí)電路內(nèi)建自測(cè)試建模技術(shù)研究
1.引言 在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)、國(guó)防軍事、航空航天等領(lǐng)域需要利用電路自身資源進(jìn)行快速的故障診斷，即要求電路具有自測(cè)試功能。為了使復(fù)雜的電路具有自測(cè)試功能必須進(jìn)行專(zhuān)門(mén)的可測(cè)性分析與設(shè)計(jì)[1]。而通過(guò)
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