測試探針卡技術：半導體質(zhì)量把關的精密藝術

在半導體制造的精密鏈條中，測試探針卡（Probe Card）猶如一座無形的橋梁，連接著待測芯片與測試系統(tǒng)，其性能直接決定了芯片良率檢測的準確性與生產(chǎn)效率。從5納米先進制程到第三代半導體材料，從消費電子芯片到航天級器件，探針卡技術始終是半導體質(zhì)量把控的核心環(huán)節(jié)。本文將從技術原理、設計挑戰(zhàn)、創(chuàng)新趨勢三個維度，揭開這一精密藝術的神秘面紗。