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片式膜電阻器過電應(yīng)力失效模式及機(jī)理研究
摘 要：通過對片式膜電阻器在不同環(huán)境條件下進(jìn)行的過電應(yīng)力試驗(yàn)，研究了其過電應(yīng)力失效模式及失效機(jī)理，為指導(dǎo)用戶正確選用片式膜電阻器提供了參考，同時(shí)提高了片式膜電阻器的使用可靠性。
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