淺談嵌入式系統(tǒng)測(cè)試JTAG技術(shù)各個(gè)階段

IEEE 1149.1邊界掃描測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(通常稱為JTAG、1149.1或“dot 1”)是一種用來進(jìn)行復(fù)雜IC與電路板上的特性測(cè)試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法，大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)。為了更好地理解這種方法，本文將探討在不同年代的系統(tǒng)開發(fā)與設(shè)計(jì)中是如何使用JTAG的，通過借助過去有關(guān)JTAG接入的經(jīng)驗(yàn)或投入，推動(dòng)設(shè)計(jì)向新一代發(fā)展。