在電子測(cè)量領(lǐng)域,阻抗作為表征元件或系統(tǒng)電磁特性的核心參數(shù),其精準(zhǔn)測(cè)量直接影響產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)檢測(cè)與性能優(yōu)化。阻抗分析儀和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)是兩類常用的阻抗測(cè)試儀器,二者既存在原理與功能的交集,又在測(cè)試場(chǎng)景、精度表現(xiàn)等方面有著顯著區(qū)別。本文將從測(cè)試原理、核心性能、適用范圍等維度,系統(tǒng)解析二者的異同點(diǎn),為工程技術(shù)人員的儀器選型提供參考。
關(guān)鍵字: EMC ESD IEEE 萊爾德科技公司宣布其電磁兼容性技術(shù)代表之一,美國(guó)國(guó)家無(wú)線電與電信工程師協(xié)會(huì)認(rèn)證的電磁兼容性(EMC)和靜電放電(ESD)工程師Gary Fenical已獲認(rèn)可參與共同開(kāi)發(fā)用于頻率范圍為直流18赫茲的導(dǎo)