直流濾波電容的壽命模型：溫度、紋波電流與ESR的聯(lián)合加速老化試驗

電動汽車充電樁、數(shù)據(jù)中心電源及工業(yè)自動化設備等高可靠性場景，直流濾波電容作為能量緩沖與紋波抑制的核心元件，其壽命直接決定系統(tǒng)維護周期與運行成本。然而，實際工況中電容同時承受高溫、高頻紋波電流及等效串聯(lián)電阻(ESR)的聯(lián)合作用，導致傳統(tǒng)基于單一因素的壽命模型誤差顯著。本文通過構建溫度-紋波電流-ESR的聯(lián)合加速老化試驗框架，揭示多物理場耦合下的電容失效機理，為工程選型提供量化依據(jù)。