位移測(cè)量的常見(jiàn)方法有圖像分析法、雙頻激光測(cè)量法、光柵或磁柵測(cè)量法、磁阻或磁場(chǎng)測(cè)量法等。其中基于磁敏傳感技術(shù)的磁性標(biāo)尺型測(cè)最方法具有如下優(yōu)點(diǎn):不存在因相對(duì)運(yùn)動(dòng)出現(xiàn)
是德科技創(chuàng)新技術(shù)峰會(huì)來(lái)襲,報(bào)名領(lǐng)好禮
手把手教你學(xué)STM32-Cortex-M4(中級(jí)篇)
AVR單片機(jī)十日通(下)
IT005學(xué)習(xí)嵌入式物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)常見(jiàn)三誤區(qū)
野火F429開(kāi)發(fā)板-挑戰(zhàn)者教學(xué)視頻(入門(mén)篇)
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯(cuò)誤 其它
本站介紹 | 申請(qǐng)友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠(chéng)聘英才
ICP許可證號(hào):京ICP證070360號(hào) 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶(hù)舉報(bào)窗口( 郵箱:macysun@21ic.com )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號(hào)