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硬件邊界值測試：±1%誤差帶內的電壓源穩(wěn)定性驗證

在精密電子設備研發(fā)中，電源穩(wěn)定性直接影響系統性能。本文聚焦±1%誤差帶內的電壓源穩(wěn)定性驗證，系統闡述測試方法、數據分析及誤差溯源技術，為硬件設計提供可靠的驗證方案。

測試測量
2026-01-13

邊界值測試精密電子