摘要:為了有效解決金屬一氧化物半導體場效應(yīng)晶體管(MOSFET)在通信設(shè)備直流-48 V緩啟動應(yīng)用電路中出現(xiàn)的開關(guān)損耗失效問題,通過對MOSFET柵極電荷、極間電容的闡述和導通過程的解剖,定位了MOSFET開關(guān)損耗的來源,進而為緩啟動電路設(shè)計優(yōu)化,減少MOSFET的開關(guān)損耗提供了技術(shù)依據(jù)。
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