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表面貼裝器件S 參數(shù)測(cè)量方法研究
0 引言 在微波射頻領(lǐng)域，當(dāng)測(cè)試一個(gè)器件時(shí)，最大的挑戰(zhàn)之一，是如何消除有害的夾具效應(yīng).端口延伸和TRL 校準(zhǔn)是補(bǔ)償校準(zhǔn)參考平面和儀器的測(cè)量平面不一致而引起的誤差的最簡(jiǎn)單方法之一. 校準(zhǔn)之
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