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一種FPGA單粒子軟錯誤檢測電路設(shè)計
摘要：分析了FPGA器件發(fā)生單粒子效應(yīng)的空間分布特性，設(shè)計并實現(xiàn)了一種面向FPGA單粒子軟錯誤的檢測電路。將該電路放置在FPCA待檢測電路的附近，利用單粒子效應(yīng)的空間特性，
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軟錯誤是如何損壞重要信息的?
軟錯誤是指高能粒子與硅元素之間的相互作用而在半導(dǎo)體中造成的隨機、臨時的狀態(tài)改變或瞬變。隨著SRAM工藝的性能日益提高，越來越低的電壓和節(jié)點電容使得SRAM器件更易出現(xiàn)軟錯誤。軟錯誤不僅會損壞數(shù)據(jù)，而且還有可能
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