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EMI 對(duì)策及輸出噪聲對(duì)策
在現(xiàn)代電子技術(shù)飛速發(fā)展的今天，電子設(shè)備的性能和可靠性愈發(fā)受到關(guān)注。其中，電磁干擾(EMI)和輸出噪聲問(wèn)題成為影響電子設(shè)備正常運(yùn)行的關(guān)鍵因素。有效解決這些問(wèn)題，對(duì)于提升電子設(shè)備的性能、穩(wěn)定性以及符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求具有重要意義。
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【世說(shuō)設(shè)計(jì)】你知道嗎？采樣保持輸出噪聲有兩個(gè)關(guān)鍵分量！
采樣保持（THA）輸出噪聲有兩個(gè)關(guān)鍵噪聲分量：采樣噪聲和輸出緩沖放大器噪聲。
小軒窗
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