氮化鎵(GaN)作為第三代半導(dǎo)體材料的代表,憑借其高電子遷移率、低導(dǎo)通電阻和超快開關(guān)速度,在高頻、高功率密度電源領(lǐng)域展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢。然而,GaN器件的驅(qū)動電路設(shè)計面臨獨特挑戰(zhàn):其門極電荷特性、傳輸延遲要求及抗干擾能力直接影響系統(tǒng)效率與可靠性。本文從門極電荷匹配、傳輸延遲優(yōu)化及抗干擾性測試三個維度,結(jié)合典型應(yīng)用案例,系統(tǒng)闡述GaN驅(qū)動芯片的選型方法。
對于設(shè)計一個驅(qū)動器來說,最重要的參數(shù)莫過于門極電荷Qg的大小,同時確定實際的門極輸入電容Cies的大小,因為Datasheet中給到的輸入電容大小一般是個參考值,確定實際門極輸入電容是一重要意義的。
在測量電路中,一個25V的電壓加在集電極上,在這種測量方法下測得的結(jié)電容要比Vce=0的時候要小一些,因此,規(guī)格書中的Ciss這個參數(shù)一般用于IGBT相互做對比時使用。