在工業(yè)控制、電源設(shè)備、智能儀表等電子系統(tǒng)中,開關(guān)信號的精準采集與隔離傳輸是保障系統(tǒng)穩(wěn)定運行的關(guān)鍵。光電耦合器(簡稱光耦)憑借其電氣隔離、抗干擾能力強、結(jié)構(gòu)簡單等優(yōu)勢,成為開關(guān)量采集電路中的核心器件。然而在實際應(yīng)用中,限流電阻燒毀的故障頻發(fā),不僅導(dǎo)致光耦失效,還可能引發(fā)整個系統(tǒng)停機。本文將詳細闡述光耦在開關(guān)采集中的應(yīng)用邏輯,深入分析燒限流電阻的根源,并提出切實可行的解決策略。
在工業(yè)控制、新能源汽車、醫(yī)療電子等精密電子系統(tǒng)中,隔離式ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)信號鏈是實現(xiàn)模擬信號精準采集與隔離傳輸?shù)暮诵沫h(huán)節(jié)。然而,電磁干擾(EMI)作為影響信號鏈性能的關(guān)鍵因素,不僅會導(dǎo)致采樣精度下降、數(shù)據(jù)傳輸錯誤,還可能干擾周邊電子設(shè)備的正常工作。因此,開展隔離式ADC信號鏈的低EMI設(shè)計,對提升系統(tǒng)可靠性與穩(wěn)定性具有重要現(xiàn)實意義。本文將從EMI產(chǎn)生機理出發(fā),結(jié)合信號鏈各組成部分的特性,探討低EMI設(shè)計的關(guān)鍵技術(shù)與實現(xiàn)方案。
摘要: 兩線制信號及HART傳輸應(yīng)用中,因接地回路問題,不同的地電勢產(chǎn)生回路電流從而引入共模干擾,產(chǎn)生4-20mA信號的傳輸誤差,或造成HART通訊的中斷等,更有甚者造成設(shè)