2602型雙通道系統(tǒng)源表[1]復雜的DUT可能在測試夾具循環(huán)至下一個部件之前要求多次的源激勵信號和進行相應的響應信號的測量。縮短測試時間的第一步可通過將單獨功能的源-測量儀器轉(zhuǎn)變?yōu)榧墒降腟MU獲得。這將減少觸發(fā)延
2602型雙通道系統(tǒng)源表[1]可降低測試成本的重要參數(shù)在本文的前面,介紹過四個降低測試成本的關(guān)鍵因素:縮短測試時間、縮短開發(fā)時間、減少測試設備所占的面積和機架的空間大小以及降低系統(tǒng)的保有成本。每個因素都有許多
2602型雙通道系統(tǒng)源表[1]并行I-V測試[2]系統(tǒng)――適用于復雜器件的多個DUT測試或多通道測試的系統(tǒng)。對此類DUT的測試,速度取決于儀器、應用程序以及在施加激勵源后DUT達到穩(wěn)定響應時所需的時間(過早的測量將產(chǎn)生錯誤
2602型雙通道系統(tǒng)源表[1]典型的測試設備結(jié)構(gòu)當我們在選擇生產(chǎn)測試設備時,考慮前面提到的三大類系統(tǒng)是大有裨益的:u 單機/單通道I-V解決方案u 并行I-V測試系統(tǒng)u 可隨意組合的多通道系統(tǒng)單機/單通道[2]I-V解決方案――
2602型雙通道系統(tǒng)源表[1]測試應用與設備結(jié)構(gòu)的配合在面臨這些挑戰(zhàn)時,生產(chǎn)測試工程師必須徹底縱覽ATE前景,尋找新的硬件結(jié)構(gòu)和軟件結(jié)構(gòu),從中找出滿足其測試功能所需的最佳選擇。當然,根據(jù)具體應用選擇成本最節(jié)省的