EDA布局布線參數(shù)調(diào)優(yōu)：Congestion Map分析與繞線策略調(diào)整

在先進工藝節(jié)點（如7nm及以下）的FPGA/ASIC設(shè)計中，布局布線階段的擁塞（Congestion）問題已成為制約時序收斂與良率的關(guān)鍵因素。通過EDA工具生成的Congestion Map可視化分析，結(jié)合針對性繞線策略調(diào)整，可顯著提升設(shè)計可布線性。本文以Cadence Innovus和Synopsys ICC II為例，解析擁塞優(yōu)化實戰(zhàn)方法。