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Vicor將展示如何使用高密度 DC-DC 電源模塊提升ATE吞吐量
自動測試設(shè)備 (ATE) OEM 廠商發(fā)現(xiàn)，在努力跟上不斷增長的創(chuàng)新的同時，降低“測試成本”變得非常艱難。ATE測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)需要快速可靠地滿足日益增長的集成電路需求，并最大限度地降低成本。Vicor將講述如何在最小的面積內(nèi)實(shí)現(xiàn)吞吐量最大化。
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