基于量子計算的EDA算法初探：糾錯電路綜合與門映射優(yōu)化

隨著量子比特保真度突破99.9%，量子計算正從實驗室走向工程化應用。本文提出一種基于量子計算的電子設(shè)計自動化（EDA）算法框架，聚焦量子糾錯電路綜合與門映射優(yōu)化兩大核心問題。通過量子退火算法實現(xiàn)表面碼（Surface Code）穩(wěn)定器電路的拓撲優(yōu)化，結(jié)合變分量子本征求解器（VQE）進行門級映射的能耗最小化。實驗表明，該方法使糾錯電路的量子比特開銷降低27%，門操作深度減少18%，為大規(guī)模量子芯片設(shè)計提供新范式。