隨著數(shù)據(jù)存儲和處理需求的飛速增長,DDR(雙倍數(shù)據(jù)速率)內存技術不斷迭代升級。DDR6作為新一代高速內存標準,其數(shù)據(jù)傳輸速率大幅提升,這對信號完整性提出了更為嚴苛的挑戰(zhàn)。在DDR6預布局階段,確保信號完整性至關重要,其中ODT(On-Die Termination,片上終端電阻)參數(shù)自適應與三維封裝協(xié)同仿真方法是解決信號完整性問題的關鍵技術手段。
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