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柔性O(shè)LED壽命提升：PI基板與低溫多晶硅（LTPS）的疲勞測試分析
柔性O(shè)LED技術(shù)正以年均18%的復(fù)合增長率重塑顯示產(chǎn)業(yè)格局，但屏幕彎折壽命不足仍是制約其普及的核心瓶頸。聚酰亞胺(PI)基板與低溫多晶硅(LTPS)作為柔性O(shè)LED的兩大關(guān)鍵材料，其疲勞特性直接決定產(chǎn)品壽命。通過材料科學(xué)、力學(xué)分析與工藝優(yōu)化的交叉驗(yàn)證，行業(yè)已形成一套系統(tǒng)的壽命提升解決方案。
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