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基于S參數(shù)的巴特勒矩陣性能測試與誤差分析
在5G毫米波通信與衛(wèi)星通信領(lǐng)域，巴特勒矩陣作為多波束天線的核心饋電網(wǎng)絡(luò)，其性能直接決定了波束賦形的精度與效率。該無源網(wǎng)絡(luò)通過矩陣運算實現(xiàn)信號相位與幅度的精準(zhǔn)控制，而S參數(shù)作為描述射頻器件傳輸特性的關(guān)鍵指標(biāo)，為評估巴特勒矩陣的電氣性能提供了量化依據(jù)。本文結(jié)合實際測試案例，系統(tǒng)闡述基于S參數(shù)的性能測試方法及誤差控制策略。
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射頻測試核心參數(shù)全解析，從S參數(shù)到EVM、ACPR的測量本質(zhì)與數(shù)學(xué)建模
在5G基站、衛(wèi)星通信、新能源汽車等高端電子系統(tǒng)中，射頻測試如同“顯微鏡”與“標(biāo)尺”，精準(zhǔn)刻畫著器件從線性響應(yīng)到非線性失真的全貌。從表征端口特性的S參數(shù)，到量化調(diào)制精度的EVM，再到衡量鄰道干擾的ACPR，這些參數(shù)共同構(gòu)建起射頻系統(tǒng)的“健康圖譜”。本文將以數(shù)學(xué)建模為紐帶，揭示這些核心參數(shù)的測量本質(zhì)與內(nèi)在關(guān)聯(lián)。
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基于時域反射和傳輸?shù)腟參數(shù)測量方法
引言 在頻域、時域、阻抗域三種電學(xué)基本特性測試測量儀器中，以阻抗域測試測量儀器所用電路結(jié)構(gòu)最復(fù)雜、測試操作最費時間、成套價格最高。目前能夠供應(yīng)GHz級阻抗域測試測量儀器的公司亦為數(shù)不多
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述評SPARQ系列網(wǎng)絡(luò)分析儀之三：關(guān)于S參數(shù)(上)
無源網(wǎng)絡(luò)如電阻，電感，電容，連接器，電纜，PCB線等在高頻下會呈現(xiàn)射頻、微波方面的特性。S參數(shù)是表征無源網(wǎng)絡(luò)特性的一種模型，在仿真中即用S 參數(shù)來代表無源網(wǎng)絡(luò)，因此，S參數(shù)在射頻、微波和信號完整性領(lǐng)域的應(yīng)用都
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基于小信號S參數(shù)的功率放大器設(shè)計
目前，微波功率放大器的設(shè)計方法主要有以下幾種：(1)動態(tài)阻抗測量法。在實際的工作條件下，使用儀器測量功率管的動態(tài)輸入阻抗以及輸出阻抗。通常輸出功率越大的功率管的輸入
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述評SPARQ系列網(wǎng)絡(luò)分析儀之二：信號完整性問題與S參數(shù)關(guān)系
隨著半導(dǎo)體工藝的不斷發(fā)展，數(shù)字信號的速率也愈來愈高，Gbps以上的高速信號已經(jīng)隨處可見。面對高速設(shè)計的新領(lǐng)域，硬件設(shè)計工程師們需要改 變傳統(tǒng)的設(shè)計理念，他們需要以更加超前的思維去思考自己將要設(shè)計的信號的質(zhì)量
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述評SPARQ系列網(wǎng)絡(luò)分析儀之四：關(guān)于S參數(shù)(下)
三, 直接用于仿真的S參數(shù)的特性不是任何S參數(shù)文件都可以直接用于仿真軟件。 SPARQ區(qū)別于VNA的一點是,SPARQ測量出來的S參數(shù)可以直接用于仿真軟件。 我們知道，可直接用于仿真軟件的S參數(shù)需要具備以下特點：1，遵循三大
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非插入式器件如何測量？
由于微波工程上的需要，大多微波射頻部件的端口都是陰頭，而電纜連接器件的端口卻是一陰一陽，這些微波射頻部件不能直接連接在矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上進(jìn)行直通測試，被稱為非插入式器件。實際測量中，存在
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利用S參數(shù)對射頻開關(guān)模型進(jìn)行高頻驗證
S (散射)參數(shù)用于表征使用匹配阻抗的電氣網(wǎng)絡(luò)。這里的散射是電流或電壓在傳輸線路中斷情況下所受影響的方式。利用. S參數(shù) 可以將一個器件看作一個具有輸入和相應(yīng)輸出的“黑匣子”，這樣就可以進(jìn)行系統(tǒng)建模而不必關(guān)心其實際結(jié)構(gòu)的復(fù)雜細(xì)節(jié)。
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S參數(shù)應(yīng)用技巧-正確分配端口號
S參數(shù)可以由仿真軟件產(chǎn)生，也可以由儀器對實物測量得到，比如力科公司的信號完整性網(wǎng)絡(luò)分析儀SPARQ。無論何種途徑得到的S參數(shù)文件，都是Touchstone格式的數(shù)據(jù)矩陣。
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