在毫米波通信與先進封裝測試領域,校準技術的選擇如同為精密儀器校準刻度——SOLT(短路-開路-負載-直通)與TRL(直通-反射-線)兩種主流方案,在底層邏輯與誤差補償邊界上呈現(xiàn)出截然不同的技術哲學。這種差異不僅體現(xiàn)在數(shù)學模型的構(gòu)建方式,更深刻影響著高頻測試的精度邊界與工程實現(xiàn)路徑。
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