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DDR4初始化失敗調(diào)試方案：從SPL日志分析到DDR training data加載的完整路徑
DDR4內(nèi)存初始化失敗是嵌入式系統(tǒng)開發(fā)中的常見難題，其調(diào)試過程需結(jié)合硬件信號(hào)分析、固件日志解讀和時(shí)序約束驗(yàn)證。本文以RK3399平臺(tái)為例，梳理從SPL（Secondary Program Loader）啟動(dòng)日志分析到DDR training data加載的完整調(diào)試路徑，幫助開發(fā)者快速定位問題根源。
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