在毫米波通信與先進(jìn)封裝測(cè)試領(lǐng)域,校準(zhǔn)技術(shù)的選擇如同為精密儀器校準(zhǔn)刻度——SOLT(短路-開(kāi)路-負(fù)載-直通)與TRL(直通-反射-線)兩種主流方案,在底層邏輯與誤差補(bǔ)償邊界上呈現(xiàn)出截然不同的技術(shù)哲學(xué)。這種差異不僅體現(xiàn)在數(shù)學(xué)模型的構(gòu)建方式,更深刻影響著高頻測(cè)試的精度邊界與工程實(shí)現(xiàn)路徑。
在高速數(shù)字通信領(lǐng)域,112G及以上速率的通道傳輸技術(shù)正逐漸成為主流。然而,隨著數(shù)據(jù)速率的提升,信號(hào)在傳輸過(guò)程中受到的干擾和損耗也愈發(fā)嚴(yán)重。通道去嵌誤差是影響高速信號(hào)完整性的關(guān)鍵因素之一,它會(huì)導(dǎo)致信號(hào)失真、眼圖惡化,進(jìn)而降低通信系統(tǒng)的性能。多端口TRL(Thru-Reflect-Line)校準(zhǔn)技術(shù)和頻變損耗補(bǔ)償模型為抑制112G+通道去嵌誤差提供了有效的解決方案。