在5G毫米波通信、衛(wèi)星互聯網等新興技術的驅動下,射頻功率放大器(PA)的設計正面臨前所未有的挑戰(zhàn)。當器件工作在非線性區(qū)甚至飽和區(qū)時,傳統(tǒng)的S參數表征方法逐漸失效,而雙音測試與X參數模型的結合,為工程師提供了穿透非線性迷霧的“光學顯微鏡”。
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