電解電容會(huì)隨時(shí)間而泄漏。圖1中的電路可以用來(lái)測(cè)試電容,決定它們是否值得使用。通過(guò)CREF/RREF比值可以設(shè)定對(duì)泄漏的限制條件。圖中的值適用于所有電容的一般測(cè)試,從1nF的陶瓷電容,到1000μF的電解電容。電路中,CREF的值接近于待測(cè)電容值CX。另外也可以用旋轉(zhuǎn)切換的方法選擇RREF,使之大于或小于22 MΩ。
《21ic技術(shù)洞察》系列欄目第二期:工業(yè)自動(dòng)化中的AI視覺(jué)系統(tǒng)
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