消費(fèi)性電子產(chǎn)品汰換周期越來(lái)越短,且功能復(fù)雜度不斷提高,使得系統(tǒng)研發(fā)人員面臨縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)間的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。所幸,現(xiàn)今自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)已開(kāi)始導(dǎo)入開(kāi)放式FPGA,將有助EDA開(kāi)發(fā)環(huán)境與測(cè)量軟件的整合,讓工程師可同時(shí)進(jìn)行系統(tǒng)設(shè)計(jì)與測(cè)試,加快研發(fā)時(shí)程。