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采用數(shù)字示波器進(jìn)行的EMI預(yù)測(cè)試
伴隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的發(fā)展，各種電子設(shè)備的集成度越來越高。大量高速總線和RF功能的引入，使設(shè)備本身產(chǎn)生更多的電磁輻射問題。同時(shí)，由于用戶對(duì)采購(gòu)產(chǎn)品的電磁兼容性要求越來越高，產(chǎn)品設(shè)計(jì)工程師必須努
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