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解讀FinFET存儲器的設(shè)計挑戰(zhàn)以及測試和修復(fù)方法
同任何IP模塊一樣，存儲器必須接受測試。但與很多別的IP模塊不同，存儲器測試不是簡單的通過/失敗檢測。存儲器通常都設(shè)計了能夠用來應(yīng)對制程缺陷的冗余行列，從而使片上系
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