與直流電流-電壓(I-V)和電容-電壓(C-V)測(cè)量一樣,超快I-V測(cè)量[1]能力對(duì)于特征分析實(shí)驗(yàn)室中所有負(fù)責(zé)開發(fā)新材料、器件[2]或工藝的所有技術(shù)人員正變得越來越必要。進(jìn)行超快I-V測(cè)量需要產(chǎn)生高速脈沖波形
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