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基于PXI架構(gòu)打造低成本半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)
在摩爾定律的發(fā)展極限之下，產(chǎn)生更多裝置連結(jié)與資料分析的需求。也由于物聯(lián)網(wǎng)與智慧手機(jī)的發(fā)展，使得類比與RF訊號(hào)更顯得重要。未來的訊號(hào)，將不再以純類比訊號(hào)為主，而是更為復(fù)雜的類比與RF混合訊號(hào)，這使得傳統(tǒng)ATE（
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