今年正值PXI技術(shù)誕生20周年之際,由NI(美國國家儀器,National Instruments,簡稱“NI”)公司主辦的PXI TAC 2017近日在深圳隆重召開。作為業(yè)界最具影響力的PXI專業(yè)論壇,PXI TAC 已經(jīng)連續(xù)舉辦14年,這次PXI TAC回歸本質(zhì),以用戶為核心,聚焦用戶應(yīng)用,讓用戶看到最前沿的智能測試技術(shù)和趨勢,以及在熱點應(yīng)用上的方向。
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