新技術(shù)的出現(xiàn)和發(fā)展,必然帶動測試技術(shù)的進步。在測試業(yè)界,當新技術(shù)出現(xiàn)初期,由于相關(guān)技術(shù)尚未定型,這個階段必然是以通用儀表技術(shù)為主體完成相關(guān)的測試任務(wù)。然而新技術(shù)發(fā)展到一定階段,技術(shù)相對穩(wěn)定,相關(guān)的測試規(guī)范基本定型后,必然會誕生相應(yīng)的專用儀表。
《21ic技術(shù)洞察》系列欄目第二期:工業(yè)自動化中的AI視覺系統(tǒng)
零基礎(chǔ)Python入門教程
stm32 嵌入式從入門到精通
Altium Designer 操作小知識
手把手教你學STM32--M7(中級篇)
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯誤 其它
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號:京ICP證070360號 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報窗口( 郵箱:macysun@21ic.com )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號