在高速通信系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,SERDES(串行器/解串器)接口的信號(hào)完整性直接影響數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃浴ilinx FPGA的IBERT(Integrated Bit Error Ratio Tester)工具通過(guò)眼圖分析技術(shù),為SERDES鏈路的調(diào)試提供了可視化手段,而時(shí)序約束優(yōu)化則是確保設(shè)計(jì)滿足高速信號(hào)時(shí)序要求的關(guān)鍵步驟。
Xilinx Versal自適應(yīng)計(jì)算加速平臺(tái)(ACAP)作為7nm工藝的里程碑式產(chǎn)品,其AI Engine陣列與可編程邏輯(PL)、標(biāo)量引擎(PS)的深度融合,為AI推理、5G信號(hào)處理等場(chǎng)景提供了突破性的性能提升。本文聚焦AI Engine陣列的編程范式與硬件加速設(shè)計(jì)方法,揭示其如何通過(guò)異構(gòu)計(jì)算架構(gòu)實(shí)現(xiàn)算力躍遷。
在電力電子與自動(dòng)化控制領(lǐng)域,脈沖寬度調(diào)制(Pulse Width Modulation, PWM)技術(shù)以其高效、靈活的特性成為核心控制手段。
這些元件的功能如下:電感器:在差模濾波器中,電感器的作用是對(duì)高頻噪聲電流產(chǎn)生阻抗,從而減少這些噪聲通過(guò)電源線路傳導(dǎo)出去。由于電感器對(duì)高頻信號(hào)的阻抗較高,它能夠有效地阻擋這些頻率的噪聲。
隨著開(kāi)關(guān)電源、高速數(shù)字電路和無(wú)線通信技術(shù)的普及,EMI問(wèn)題日益突出,不僅可能導(dǎo)致設(shè)備性能下降,還可能引發(fā)合規(guī)性問(wèn)題。
LLC諧振變換器憑借其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì),在數(shù)據(jù)中心、電動(dòng)汽車(chē)充電樁、工業(yè)電源等領(lǐng)域展現(xiàn)出卓越性能。本文將從工作原理、拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、設(shè)計(jì)方法到應(yīng)用場(chǎng)景,系統(tǒng)解析這一高效電源轉(zhuǎn)換技術(shù)。
在高速電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,PCB走線角度的選擇直接關(guān)系到信號(hào)完整性、電磁兼容性(EMI)和制造良率。隨著信號(hào)頻率從MHz級(jí)躍升至GHz級(jí),走線拐角處的阻抗突變、輻射損耗和工藝缺陷等問(wèn)題日益凸顯。
智能穿戴設(shè)備向隱形化、輕量化、柔性化演進(jìn),柔性電子技術(shù)正以顛覆性的姿態(tài)重塑人機(jī)交互邊界。其中,模擬電路設(shè)計(jì)作為柔性電子技術(shù)的核心支柱,通過(guò)突破傳統(tǒng)剛性電路的物理限制,為可穿戴設(shè)備賦予了更貼合人體、更高集成度、更低功耗的感知與計(jì)算能力。從智能戒指的毫米級(jí)健康監(jiān)測(cè)到仿生機(jī)器人的環(huán)境自適應(yīng),模擬電路的創(chuàng)新設(shè)計(jì)正在開(kāi)啟一個(gè)“無(wú)感智能”的新紀(jì)元。
無(wú)線充電技術(shù)蓬勃發(fā)展,外置無(wú)線充電配件憑借其便捷性與靈活性,成為智能手機(jī)、智能穿戴設(shè)備等電子產(chǎn)品的理想搭檔。然而,傳統(tǒng)無(wú)線充電受限于傳輸距離,設(shè)備與充電板需緊密貼合,一旦稍有偏離便可能導(dǎo)致充電中斷。這種“近在咫尺卻無(wú)法充電”的尷尬,如同給用戶套上了無(wú)形的枷鎖。如何突破空間限制,讓外置無(wú)線充電配件實(shí)現(xiàn)“遠(yuǎn)距離自由充電”,成為行業(yè)亟待攻克的核心挑戰(zhàn)。
在高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)中,差分信號(hào)因其優(yōu)異的抗干擾能力和時(shí)序穩(wěn)定性成為關(guān)鍵信號(hào)傳輸?shù)氖走x方案。 本文將系統(tǒng)講解在原理圖中為差分信號(hào)添加差分屬性的完整流程,涵蓋原理圖設(shè)計(jì)規(guī)范、屬性添加方法、同步到PCB的注意事項(xiàng)以及常見(jiàn)問(wèn)題解決方案。