Virtuoso Liberate特性分析解決方案搭配Spectre電路模擬器倍增16納米FinFET單元庫的特性分析速度

亮點(diǎn)：

• 輸出單元庫符合臺積電對16納米FinFET STA關(guān)聯(lián)性的嚴(yán)格的精度目標(biāo)

• Cadence的16納米FinFET v1.0單元庫特性分析現(xiàn)已運(yùn)用于制程和STA工具認(rèn)證

• 16納米FinFET單元庫特性分析工具現(xiàn)已在臺積電網(wǎng)上設(shè)置實現(xiàn)

Cadence設(shè)計系統(tǒng)公司今日宣布臺積電采用了Cadence®16納米FinFET單元庫特性分析解決方案。由Cadence和臺積電共同研發(fā)的單元庫分析工具設(shè)置已在臺積電網(wǎng)站上線，臺積電客戶可以直接下載。該設(shè)置是以Cadence Virtuoso® Liberate® 特性分析解決方案和Spectre® 電路模擬器為基礎(chǔ)，并涵蓋了臺積電標(biāo)準(zhǔn)單元的環(huán)境設(shè)置和樣品模板。

利用本地的Spectre API整合方案，Liberate和Spectre電路模擬器的組合方案能提供優(yōu)異的收斂和精確度，讓雙方客戶都加速其單元庫特性分析周期。在與臺積電共同進(jìn)行的測試中，Cadence的特性分析和模擬方案的整合讓16納米FinFET標(biāo)準(zhǔn)和復(fù)雜單元性分析周期減半。因此，臺積電已將Liberate解決方案和Spectre電路模擬器整合進(jìn)其最新16納米FinFET單元庫的分析制程中。采用Cadence特性分析解決方案的單元庫使用在16納米FinFET v1.0 靜態(tài)時序分析 (STA) 工具認(rèn)證中，包括Cadence Tempus™ 時序收斂解決方案和其他STA工具。該參考設(shè)計包為臺積電客戶提供他們需要的工具，以統(tǒng)一的方法論解決其各自在再次特性分析中面臨的特殊的設(shè)計挑戰(zhàn)，同時符合臺積電嚴(yán)格的精度和性能要求。Liberate解決方案也持續(xù)為第三方電路模擬器提供支持。

Cadence定制IC和PCB部門資深副總裁Tom Beckley表示：“在與臺積電合作開發(fā)的16納米FinFET中，單元庫特性分析扮演著相當(dāng)重要的角色，透過此次合作，客戶能享受到16納米FinFET單元庫特性分析必備的更高生產(chǎn)量、精確度和產(chǎn)能。”